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Dallas的3.3V BERT率先对通信链路进行低功耗芯片级测试
Dallas Semiconductor推出第一款芯片级低电压全功能电信位误码率测试仪(BERT)。该款3.3V DS21372测试芯片可满足电压兼容测试仪产品的需求,同时保留了其5V版本的特性、功能及经济性
2000-08-09
3.3V BERT首次实现对无线通讯链路的低电压片上测试
Dallas半导体公司推出第一款低电压片上全功能无线通讯位误码率测试仪(BERT)
2000-07-27
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