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是德科技阻抗分析仪开卖
是德科技公司日前宣布旗下 E4991B 阻抗分析仪开始发货。E4991B 专为研发、质保和质检工程师设计,可用于表征及测试无源电子元器件、半导体器件、介电材料和磁性材料。
2014-11-27
咱的纳米有几安几伏?(下)
与微米级元件与材料的I-V曲线生成不同的是,对纳米材料与器件的测量需要特殊的方法和技巧。I-V直流特征分析通常采用两点式电气测量技术来实现。但是,当测量导电纳米材料或元件的低电阻时,如果采用两点测量方法,即使使用脉冲测试,也难以获得准确的结果。
2011-05-16
咱的纳米器件有几安几伏?(上)
目前的纳米电子研究的内容主要是如何开发利用碳纳米管、半导体纳米线、分子有机电子和单电子器件。不过,由于多方面的原因,这些微小器件无法采用标准的测试技术进行测试。其中一个主要原因在于这类器件的物理尺寸。
2011-05-10
吉时利脉冲式电测试攻破纳米电子器件测试难题
随着纳米技术日新月异的发展,研究已深入到原子挨原子的分子级,构造具有全新特性的新结构。特别地,纳米电子领域的发展十分迅速,其潜在影响涉及非常宽的行业领域。目前的纳米电子研究的内容主要是如何开发利用碳纳米管、半导体纳米线、分子有机电子和单电子器件……
2011-05-05
吉时利宣布启动2011年新能源与新材料测试技术中国区春季巡回研讨会
美国吉时利(Keithley)仪器公司日前宣布将举办2011年度新能源与新材料测试技术全国巡回研讨会。巡回研讨会将从3月开始,在兰州、武汉、长沙、天津举办。
标签二极管
2011-03-07
吉时利发布特征分析设备混合信号互连解决方案
吉时利(Keithley)仪器公司日前发布测试界第一个利用一套线缆即可处理I-V、C-V和脉冲I-V信号的互连解决方案(正申请专利)。本款最新布线套件基于专利型设计,能大大加快并简化从任意先进半导体参数分析仪到Cascade Microtech或SUSS MicroTec探测器进行直流电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)和脉冲I-V测试互连的过程。
2009-04-22
吉时利4200-SCS升级版支持太阳能电池测试
吉时利(Keithley)仪器公司,日前宣布对其4200-SCS半导体特征分析系统进行全面的硬件、固件和软件升级。吉时利测试环境交互式软件(KETI)V7.2版经过升级囊括九种新的太阳能电池测试库,扩展了系统电容-电压(C-V)测量功能的频率范围,支持该公司最新九槽4200-SCS仪器架构。
2009-04-09
吉时利科研测试设备现场体验巡展在京启动
吉时利仪器公司(Keithley)宣布将在中国启动“吉时利2009中国科研测试设备现场体验巡回展示”,专门为高校和研究机构搭建学、研和具体实践操作及面对面交流的平台。首场活动将于3月31日下午在北京丽亭华苑酒店三层鸿运厅举行。
2009-03-24
吉时利针对元件测试应用推出分析套件ACS基础版
吉时利(Keithley)仪器公司,日前针对元件测试应用推出特征分析和曲线绘制软件ACS基础版。ACS基础版是吉时利功能强大的自动特征分析套件系列的最新产品,集成了业界量程最宽的源测量单元——吉时利数字源表系列。
2008-12-11
吉时利推出2600A数字源表系列仪器
美国吉时利(Keithley)仪器公司日前新推出2600A数字源表系列仪器。这类仪器具有易用性、出色的测量性能和灵活性,能够帮助用户加快产品的上市时间,降低测试成本,简化进行高性能测量过程。
2008-10-13
吉时利推出4200-SCS半导体特征分析系统KTEI V7.1升级版
美国吉时利(Keithley)仪器公司日前针对4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI(吉时利交互式测试环境)V7.1版。经过此次软件升级之后,KTEI支持更高功率半导体器件的测试。这样,4200-SCS就支持从低到高各种功率水平的器件的特征分析。
2008-07-30
吉时利ACS测试系统将圆片级可靠性测试速度提高五倍
美国吉时利(Keithley)仪器公司,日前宣布增强了其ACS(Automated Characterization Suite,自动特征分析套件)软件,纳入了面向半导体可靠性与寿命预测测试应用的WLR(wafer level reliability,圆片级可靠性)备选测试工具。
2008-05-14
吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm工艺技术
美国吉时利(Keithley)仪器公司,日前宣布将与Stratosphere Solutions公司合作。Stratosphere Solutions致力于面向集成电路制造提供能够提高工艺参数成品率的新型解决方案。
2008-02-25
Keithley发布半导体测试与自动特征分析套件ACS V3.2版
吉时利(Keithley)仪器公司日前发布用于器件级、圆片级和晶匣级半导体测试与特征分析的自动特征分析套件ACS V3.2版。V3.2版新增更加强大的多点并行测试功能、面向管芯分拣应用成品分装功能、新圆片级打点功能,并以1fA电流测量分辨率支持吉时利最新2635和2636型系统数字源表,进一步增强ACS集成测试系统强大自动测试功能。
2008-01-23
意法半导体系统级芯片向45nm CMOS射频技术升级
半导体制造商和无线通信芯片供应商的意法半导体(ST)日前宣布该公司成功地制造出了第一批采用CMOS 45nm射频(RF)制造技术的功能芯片。这项技术对于下一代无线局域网(WLAN)应用产品至关重要。
2007-12-14
吉时利与CNSI在纳米技术测量领域建立合作关系
吉时利仪器公司(Keithley),日前宣布结盟位于加州大学洛杉矶分校(UCLA)的加州纳米系统研究院(CNSI)并展开合作。CNSI将在半导体行业下一代仪器和测量所需的纳米技术和纳米科学领域提供研究合作,吉时利和CNSI将分享在纳米技术和纳米电子技术领域的研究成果。
2007-10-12
吉时利发布ACS自动特征分析套件集成测试系统
美国吉时利仪器公司日前发布ACS(Automated Characterization Suite)自动特征分析套件集成测试系统。该测试系统实现器件级、圆片级和黑盒级半导体特征分析工作。
2007-04-26
吉时利针对先进半导体器件测试发布脉冲I-V测试解决方案
美国吉时利仪器公司日前发布获奖产品——4200-SCS半导体特征分析系统的最新硬件和软件升级版本,本次升级引入4200-SCS新一代脉冲测试功能。
2007-04-11
威盛电子采用科利登的实验室解决方案
科利登系统公司(Credence)日前宣布,威盛电子成为台湾地区首家从科利登购买整套用于设计、调试和特征分析的电性失效分析实验室的无晶圆厂(Fabless)。
2005-11-28
科利登3.2Gbps设备适用高速串行总线测试,出货量超150套
为半导体产业提供从设计到生产测试解决方案的供应商科利登系统有限公司(Credence Systems)日前宣布,科利登已经有超过150套的3.2Gbps数字测试设备在Sapphire系统上被其全球十大主要客户所采用,这些客户有著名的fabless设计公司,测试承包商及IDM领导厂商。
2005-11-11
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