安捷伦推出结合逻辑分析仪用于测试 DDR4/3设计的BGA 内插器

上网时间: 2014年05月21日? 我来评论 【字号: ? ?小】

关键字:结合逻辑分析仪? 测试 DDR4/3设计的BGA 内插器?

安捷伦日前宣布推出两款内插器解决方案,可结合逻辑分析仪用于测试 DDR4 和 DDR3 DRAM 设计。这两款内插器解决方案均能快速且精确地捕获地址、命令和数据信号,以进行设计调试和验证测量。Agilent W4633A BGA 内插器结合Agilent E5849A 探头使用可以探测数据速率更高的 DDR4 x4 或 x8 DRAM 设计。Agilent W3636A BGA 内插器可以让工程师对 2G 容量以上的非堆叠DDR3 x16 DRAM 进行探测。

当前的 DDR4 数据速率已提升至 3.2Gb/s,工程师在设计新一代存储器系统时,譬如应用到服务器和嵌入式设备中的存储器系统,往往面临着重大挑战。精确的探测和信号捕获是确保新设计调试和验证工作的关键。内插器解决方案可以直接访问 DDR4 x4 或 x8 DRAM BGA焊球,既能确保低负载,又能尽量减少对嵌入式系统设计信号完整性的影响。BGA探头可在现有的设计系统上工作,可避免预先计划或重新设计。另外,两者可与业界最快速的逻辑分析仪 Agilent U4154A 逻辑分析仪系统搭配使用,后者提供高达 4Gb/s 的状态速度和高达 2.5GHz 的触发序列速度。

安捷伦副总裁兼示波器和协议事业部总经理、是德科技首席技术官 Jay Alexander 表示:“我们的客户需要使用精度更高的探测工具,以确保他们的新一代存储器系统增强数据速率并降低功耗。工程师综合运用 DDR4 BGA 内插器、E5849A 探头和 U4154A 逻辑分析仪系统,将能够测试数据速率超越 2400 Mb/s的 DDR4 内存解决方案。”

W3630A 系列 DDR3 BGA 探头与示波器、逻辑分析仪以及 U4154A 逻辑分析系统,可以执行数据速率高达 2400 Mb/s 的物理层和功能测试。

Agilent DDR3/4 测试解决方案的特性包括:

B4622B DDR2/3/4 和 LPDDR/2/3 协议一致性和分析套件,集四种软件工具于一身,功能覆盖了功能协议一致性检测、自动物理地址触发设置,并可利用总线统计信息和地址空间访问直方图统计进行系统整体性能概览测试。它们帮助存储器设计人员缩短故障诊断时间和提高 DDR设计验证工作效率。

B4621B DDR2/3/4 协议解码器软件,可将捕获的信号转变为容易理解的总线事务,以显示相关数据突发。该软件可以解码有效的读写命令,使其包含行地址和列地址以及与命令有关的完整数据猝发。B4621B 总线解码软件可以利用默认 DDR2、DDR3 或 DDR4 探测配置或 DDR 设置辅助工具的关键系统属性,加快 DDR2、DDR3 或 DDR4 总线信号解码速度。

DDR 眼图扫描/眼图定位,提供独特的眼图扫描功能,用于自动确定每个单独通道上眼图中时间和电压的采样点,以获得最佳的采样可靠性。DDR 眼图扫描显示功能可以帮助您深入分析总线信号完整性,并对相同条件下扫描得到的所有信号进行定性比较。

DDR 设置辅助工具,通过一个短系列问题和下拉菜单选项,帮助用户在 DDR2/3/4/ 或 LPDDR2/3/4 测量过程中进行状态模式测量中的各项设置。

DDR 配置程序创建工具,Agilent DDR 设置辅助和眼图定位软件包的新成员,可以让工程师根据 DDR/LPDDR 设置使用的定制探测解决方案来定义封装信息,并生成基于封装信息的 XML 配置文件。

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