惠瑞捷V6000 WS测试系统新增SmartRA功能

上网时间: 2009年08月07日? 我来评论 【字号: ? ?小】

关键字:V6000?

惠瑞捷公司(Verigy)宣布为旗下V6000 WS内存测试系统新增内存冗余分析功能(Scalable Memory Redundancy Technology;SmartRA)。SmartRA是一套可扩充、具备高度弹性及成本效益的解决方案,能帮助制造商解决DRAM冗余分析中日渐成长的失败储存空间与效能需求。

惠瑞捷于2008年11月推出的V6000 WS系统,是第一套可同时应用于闪存与DRAM的晶圆测试系统,不仅具备可扩充性,更能满足大量测试需求。随着SmartRA的推出,V6000 WS使用者将可轻松地透过冗余分析功能提升产出量及良率。

V6000测试系统系列能满足半导体内存制程各阶段的测试需求,包括工程测试、晶圆测试与终程测试等。只要更换测试程序与探针卡(probe card),V6000即可测试闪存或DRAM。V6000系统采用惠瑞捷专利申请中的Active Matrix技术以及第六代Tester-Per-Site架构,两者搭配可提供业界最低的测试成本。

Active Matrix技术能进行大规模的平行测试,支持的I/O Pin超过18,000个,可程控电源供应Pin亦超过4,000个,且因大幅缩短通往脚端接口电路(Pin Electronics)的讯号路径,而能提供最佳的讯号完整性(Signal Integrity)。

为满足业界的众多需求,惠瑞捷开发了SmartRA,藉由此解决方案具备的高效能刀锋服务器,企业可依据本身需求提高冗余分析的处理效能,无须扩充测试机台容量。另外,SmartRA采用开放性软件架构,客户可选择采用惠瑞捷提供的算法或另外自行开发,可缩短上市时程并降低测试成本。

SmartRA可解决复杂冗余分析处理所带来的挑战,包括暴露冗余分析时间导致的产出量下降,或是冗余分析逾时造成的良率损失。新增了SmartRA的V6000测试系统隐藏冗余分析时间,即使改变测试需求、切换测试模式也不会造成中断,进而达到提升产出量与良率的效能。


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