安捷伦现场演示高速数字信号眼图测量仪器

上网时间: 2005年04月06日? 我来评论 【字号: ? ?小】

关键字:第十届国际集成电路研讨会暨展览会? IIC-China 2005? 第五届嵌入式系统研讨会?

作者:周智勇

在第十届国际集成电路研讨会暨展览会上,安捷伦展出的崭新仪器设备吸引了与会工程师的关注,他们纷纷对感兴趣的测试问题向安捷伦的市场工程师询问。

安捷伦今年带来了面向高速数字电路信号的眼图测试的方案。工作人员介绍说,随着数字系统复杂性的提高,信号完整性、电源完整性和EMI的问题日益突出,解决信号完整性问题(如抖动、信号交调等等)对进一步发现和解决电源完整性和EMI问题至关重要。眼图测试是关键步骤,它比传统的时域反射方法效率更高,因而受到工程师的关注。


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