Applied推出65nm X架构测试芯片

上网时间: 2004年03月04日? 我来评论 【字号: ? ?小】

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Applied和Cadence联合推出65nm测试芯片,它采用对角及传统的直角Manhattan互连。

两家公司在SPIE光刻年会上发表了两篇论文,阐述X架构面临的挑战。X架构支持连线少、路径少的设计,可改进产品速度、功率及成本等性能。Cadence还提供结构设计和芯片验证工作,并使用Canon 193nm扫描仪。

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