Teradyne存储器测试系统可并行测试128个器件

上网时间: 2000年08月03日? 我来评论 【字号: ? ?小】

关键字:teradyne? flash 750? memory test system?

FLASH 750存储器测试系统采用新的体系结构、以减少闪存的测试费用。它能并行测试32个蜂窝电话用NOR闪存器件,或用一个探头并行测试最多128个引脚较少的串行存储器件。

FLASH 750降低了拥有成本,高吞吐性能达100MHz。该公司的分布式闪存处理(DFP)体系结构使被测器件(DUT)异步运行,大大缩短了测试时间。FLASH 750引用继承该公司DRAM产品中的高并行探针卡和接口技术,绑定焊盘处给出的测试精度为±500pS。

FLASH 750定价750,000美元起。

标签 NOR??

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